BLIQ黑体作为TCB系列特殊版本,可以弥补TCB其他型号的不足:大尺寸面源,需要降温到零下-40℃的温度。BLIQ也有一些限制条件:需要连接BLIQ黑体的安全罩(Inframet可提供)。覆盖罩须装充有干燥的氮气,以保护黑体发射器免受结霜或湿气冷凝。用户需要提供干燥的氮气。安全罩不能有任何漏洞以免潮湿热气体进入罩内。测试成像仪的光学镜头必须完全覆盖在罩中的输入孔中。罩长必须至少等于黑体发射面的大小。这意味着被测试的成像仪不能位于距BLIQ黑体发射器很短的距离。专业校准,热成像基数参数优化,让夜间监控更智能高效!上海黑体热成像校准系统

靶标是用于测试光电成像系统时创建参考图像的模块。Inframet提供的靶标可分为两类:1)无源靶标,2)有源靶标。无源靶标需要由黑体或标定光源产生均匀光束照射,生成参考图像模式的图像。这些靶标通常是大型测试系统位于平行光管焦平面的小模块。无源靶标的工作不需要电力供应。
版本型号:FUT以下列不同标准尺寸的形式提供:FUT118:辐射源尺寸1100x800mm(11x8个100mm大小正方形区域);FUT1511:辐射源尺寸1500x1100mm(15x11个100mm大小正方形区域);FUT2020:辐射源尺寸1900x1900mm(19x19个100mm大小正方形区域);FUT2216:辐射源尺寸2200x1600mm(22x16个100mm大小正方形区域)。还可以定制化交付不同尺寸和图案的定制化FUT靶标。 上海黑体热成像校准系统智能校准,热成像基数参数准确无误,安全监控更放心!

为完成太空测试任务的红外系统,通常使用模拟太空条件的低温真空黑体进行测试。所需黑体的设计,技术上是一个挑战,由于一系列特殊要求:在真空条件下工作的能力,承受低温度的能力,黑体发射器温度的准确调节,以及远程控制位于真空室中的黑体,其控制中心位于真空室外。VSB黑体是Inframet公司根据太空实验需求开发的新型黑体。
具备在真空室中工作的能力;能够承受低的环境温度;遥控距离长达50米;非常好的温度分辨率1mK;非常好的时间稳定性:±10mK;高速,易于PC控制;发射器尺寸从50x50(VSB-2D)到150x150mm(VSB6D);即可用于低温真空室,也可以在正常空气条件下使用。
IR FPA 传感器(焦平面阵列传感器)指的是对红外光敏感的探测器阵列,这些探测器在位于红外光学镜头焦平面时,能够生成二维电子图像。具体来说,市场上提供的 IR FPA 传感器是通过将红外探测器阵列(即原始 IR FPA 传感器)与读取电子系统结合而成的。
FAPA是一个模块化系统,由一系列模块组成,可以配置为创建一系列不同的子系统,用于测量不同参数组。然而,FAPA的所有模块基本上可以分为三类(块):1.放射性测量工具,2.传感器控制/图像处理工具,3.图像采集/计算工具。 明策电子热成像校准系统配备智能温控模块,提升校准环境稳定性。

DTR短焦热像仪测试系统是传统DT热像仪测试系统的一个特殊版本。这两个系统都是将一系列的标准靶标投影出去,被测热像仪接收成像。DT系统使用了较长焦距和大孔径的离轴反射式光管,而DTR系统则使用较短焦距和小孔径的透射式光管。因此,相同的红外靶标由DTR系统投射后,被测热像仪接收的图像比由DT系统透射出的要更大。从数学上讲,DTR系统可以投射出比典型DT系统空间频率要低几倍的4杆靶图像。
DTR测试系统在测试过程中,被测热像仪的奈奎斯特空间频率(等于1/2IFOV)可低至0.02lp/mrad(热像仪的探测器像元尺寸17um,物镜焦距0.68mm),可满足市场上大多数大视场热像仪的测量需求。另外DTR测试系统提供2个不同焦距和视场的光管供选择,可根据被测热像仪的分辨率和视场来选择适用的光管。通常DTR测试系统提供测试长波热像仪的配置,可选配测量中波热像仪。 Inframet DT 热成像光电测试系统新高度,基数参数精心调校,夜视效果超乎想象!上海黑体热成像校准系统
明策电子热成像校准系统支持自定义校准方案,满足特殊应用场景需求。上海黑体热成像校准系统
OPO望远瞄准测试系统是一套用于测试光学瞄准系统的模块化多功能测试系统,OPO测试系统支持一系列重要参数的测试:分辨率,MTF(轴上,离轴),放大率,畸变,视场,透过率,渐晕,出瞳距离,出瞳直径,屈光度范围,视差等。被测望远瞄准系统可以由这些参数来表征其性能。OPO测试系统对于望远瞄准系统的生产商,采购商或者维修站来说都是比较好的测试工具。OPO系统是人工由操作计算机系统的概念建立的,该系统可以对被测望远镜瞄准具生成的参考图像进行分析。简单的手工操作设计理念,模块化设计,可靠性高,使用寿命长。上海黑体热成像校准系统
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