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Newport RS2000系列和RS4000系列光学平台的主要区别如下：1. 阻尼器数量与性能RS2000系列：配备2个精密可调阻尼器，能够有效消除平台的两个基本结构振动模式及其谐波。RS4000系列：配备6个精密可调阻尼器，能够针对性地消除平台的大部分共振，提供更好的被动阻尼性能。2. 应用场景RS2000系列：适用于对振动控制有一定要求但预算有限的应用，如生物医学成像、扫描显微镜、光谱学、电生理学等。RS4000系列：是关键应用（如活细胞成像、高分辨率成像、干涉测量、长曝光时间的实验等）的理想选择。S-2000AN 隔振器采用铝合金结构，所有内部零件由非磁性316不锈钢制成。上海RS2000光学平台Newport测量系统
Newport 提供多种光学平台，适用于光谱学实验，能够满足不同精度和预算需求。以下是几种适用于光谱学实验的 Newport 光学平台：1. RS2000 系列光学平台RS2000 系列光学平台配备两个精密可调阻尼器，能够有效消除平台共振，提供良好的振动控制。其特点包括：调谐质量阻尼（TMD）：集中阻尼力，有效消除共振频率。高平整度工作表面：4.8 毫米厚的表层，每 2 平方英尺表面平整度为 ±0.004 英寸。兼容多种支撑方式：可升级至气动隔离的刚性支撑腿。应用：适用于生物医学成像、光谱学、电生理学等。上海RS2000光学平台Newport测量系统Newport的混合阻尼式光学平台（SmartTable HD）是该公司推出的光学平台，为需要高级别阻尼的场景设计。
RPRReliance™平台适用于以下光学实验和应用场景：基础光学实验适合高校和教育机构的基础光学实验，帮助学生进行光学元件的安装和测试。光学元件测试适用于光学元件的对准和测试，如透镜、反射镜、光学系统的性能测试。光谱学研究提供稳定的支撑环境，减少振动对光谱测量的影响。工业级应用适用于工业环境中的光学元件制造和测试，如光模块性能测试、光学链路损耗测试。材料研究支撑大型真空室或其他重型仪器，适用于光电材料的综合测试。非磁性版本RPR-N系列采用非磁性316不锈钢，适用于需要去除所有磁性材料的实验，如材料研究中的极端应用。
精密调谐阻尼研究光学平台（RS2000系列）特点：配备2个精密可调阻尼器，能够有效消除平台共振，适用于生物医学成像、光谱学等应用。应用：生物医学成像、扫描显微镜、光谱学、电生理学等。宽带阻尼工业及教育级光学平台（RPR系列）特点：具有宽带阻尼、静态刚度和热稳定性，价格适中，适用于一般工业和教育应用。应用：工业制造、教育实验、基础光学研究等。服务与支持杭州谱镭光电技术有限公司提供***的售前和售后服务，包括产品咨询、技术支持和售后服务。公司信息杭州谱镭光电技术有限公司位于浙江省杭州市西湖区塘苗路18号华星现代产业园D座301室，是一家专注于光谱仪器、激光器系统及配件等领域的企业。如果您需要了解更多关于Newport光学平台的信息，或者需要获取报价和购买支持，请随时联系杭州谱镭光电技术有限公司。Newport S-2000A系列气动隔振器采用了独特的Stabilizer™混合腔设计。
灵活的安装选项SmartTable® 平台提供多种安装孔布局，如1英寸网格（25毫米网格），便于光学元件的快速安装和调整。这种灵活的安装选项确保了实验设置的便捷性和高效性。实际应用案例在高分辨率光谱学实验中，SmartTable® 平台能够显著提高光谱测量的精度和稳定性。例如，在研究分子振动光谱时，平台的低振动特性能够确保光谱仪的稳定运行，从而获得更清晰、更准确的光谱信号。在进行激光诱导荧光光谱测量时，平台的高稳定性能够减少荧光信号的抖动，提高测量的信噪比。总结Newport SmartTable® 平台通过其***的振动控制、高平整度工作表面、高刚性结构和实时监测调谐功能，为高分辨率光谱学实验提供了理想的实验环境。这些特性不仅提高了光谱测量的精度和稳定性，还确保了实验结果的可靠性和重复性。所有安装孔单独密封，螺纹深度为19毫米，确保清洁和长期稳定性。上海RS2000光学平台Newport测量系统
Newport平台表面平整度达到每2平方英尺±0.004英寸，确保光学元件的精确安装和对准。上海RS2000光学平台Newport测量系统
在选择Newport光学平台用于工业制造时，RS4000系列和RS2000系列各有其特点和优势，具体选择取决于实验的具体需求和预算。RS4000系列阻尼性能：RS4000系列拥有6个精密可调阻尼器，能够有效消除平台的大部分共振，提供***的被动阻尼性能。这种高性能的阻尼系统使其成为对振动控制要求极高的工业制造应用的理想选择，例如高精度的半导体制造、纳米材料加工等。适用场景：特别适用于需要严格水平阻尼的高精度工业制造过程，如活细胞成像、高分辨率成像、干涉测量、长曝光时间的实验等。上海RS2000光学平台Newport测量系统
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