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桌面型X射线衍射仪用于地球化学 欢迎来电 上海市赢洲科技供应

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所在地: 上海市
***更新: 2025-06-29 01:33:28
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小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在刑事侦查物证分析中具有独特优势,能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息,为案件侦破提供关键科学依据。

物残留分析检测目标:无机**:KNO₃(**)、NH₄NO₃(硝酸铵**)有机**:RDX(1,3,5-三硝基-1,3,5-三氮杂环己烷)技术方案:原位检测:现场尘土直接压片分析混合物解析:全谱拟合定量各组分(如**中S/KNO₃/C比例)特征数据:RDX主峰:13.6°、17.2°、28.9°NH₄NO₃多晶型鉴别(常温相IV:23.1°、29.4°) 航天器材料发射前状态确认。桌面型X射线衍射仪用于地球化学

桌面型X射线衍射仪用于地球化学,衍射仪

小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在刑事侦查物证分析中具有独特优势,能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息,为案件侦破提供关键科学依据。

刑侦物证分析的**需求快速筛查:现场快速获取物证成分信息高特异性:区分化学组成相似但晶体结构不同的物质无损检测:保持物证完整性以备后续司法鉴定微量检测:应对现场提取的微量物证(毫克级)

**与易制毒化学品鉴定检测目标:常见**:**(**HCl)、**(**)、**HCl前体化学品:**、伪**晶体技术方案:特征峰比对:**:强峰位于12.5°、15.8°、25.4°(2θ,Cu靶)**:特征峰7.2°、17.3°、21.5°掺杂物识别:通过Rietveld精修定量分析(如淀粉掺假比例)案例:2022年某缉毒案中,通过XRD区分外观相似的**HCl与扑热息痛(对乙酰氨基酚) 便携式X射线多晶衍射仪作用和用途评估追溯土壤物证来源。

桌面型X射线衍射仪用于地球化学,衍射仪

小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在考古陶瓷鉴定中具有不可替代的作用,能够通过物相分析揭示陶器、瓷器的原料组成、烧制工艺和历史年代信息。

考古陶瓷分析的**维度原料溯源:黏土矿物组合反映产地特征工艺判定:高温相变指示烧成温度年代鉴别:特征助熔剂矿物断代真伪鉴定:现代仿品矿物学特征识别。

陶器原料与产地溯源关键矿物组合:矿物类型特征峰(2θ, Cu靶)考古指示意义高岭石12.4°、24.9°南方瓷石原料蒙脱石5.8°、19.8°北方沉积黏土伊利石8.8°、17.7°黄河中游典型原料

小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在考古文物颜料分析中具有独特优势,能够无损、快速地揭示古代颜料物的晶体结构信息,为文物鉴定、年代判断和工艺研究提供科学依据。

白色颜料分析常见物质:铅白[2PbCO₃·Pb(OH)₂]:24.9°、42.4°白垩(CaCO₃):29.4°(方解石型)风化分析:铅白→角铅矿(PbCl₂·Pb(OH)₂):13.2°、22.7°

设备特殊配置微区附件:0.3mm准直器实现局部分析三维可调样品台适配不规则文物低功率模式:避免高能X射线导致有机粘合剂降解(3)数据分析方法古代颜料特征库:包含200+种历史矿物标准谱图标注典型年代和地域特征全谱拟合精修:定量混合颜料比例(如朱砂:铅丹=7:3) 分析陶瓷材料的晶型转变温度。

桌面型X射线衍射仪用于地球化学,衍射仪

小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在刑事侦查物证分析中具有独特优势,能够快速、无损地提供物证的晶体结构信息,为案件侦破提供关键科学依据。

***击残留物(GSR)分析检测目标:特征成分:PbSt(硬脂酸铅)、Sb₂S₃(三硫化二锑)***类型鉴别:Ba(NO₃)₂ vs Sr(NO₃)₂采样方案:粘取法收集嫌疑人手部残留,直接上机检测灵敏度:PbSt检出限:0.1μg/mm²(优于SEM-EDS)

文书与**鉴定应用方向:纸张填料分析:TiO₂(锐钛矿/金红石)、CaCO₃(方解石/文石)墨水成分:Cr₂O₃(绿色颜料)、Fe₃O₄(黑色墨水)案例:通过纸张中CaCO₃的晶型比例(方解石含量>95%),追溯**用纸来源

土壤与矿物物证地域溯源:黏土矿物组合(高岭石/蒙脱石比例)特征矿物:如案发现场独有的锆石变体技术方案:建立区域矿物数据库进行模式识别 极地/深海科考中的原位分析。桌面型小型X射线衍射仪型号

野外快速鉴定矿石矿物组成(如区分石英与方解石)。桌面型X射线衍射仪用于地球化学

小型台式多晶X射线衍射仪(XRD)在复杂材料精细结构分析中的应用虽然受限于其分辨率和光源强度,但通过优化实验设计和数据处理,仍可在多个行业发挥重要作用。

半导体与电子材料分析目标:高k介电薄膜(如HfO₂)的晶相(单斜/四方)与漏电流关系。外延层与衬底的晶格失配(应变/弛豫)。挑战:超薄膜(<100 nm)信号弱,衬底干扰强。解决方案:掠入射XRD(GI-XRD):增强薄膜信号(需配备**光学系统)。倒易空间映射(RSM):分析外延层缺陷(部分台式设备支持)。案例:SiGe/Si异质结的应变弛豫度计算。 桌面型X射线衍射仪用于地球化学

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